電子顕微鏡を用いた精密構造解析法および物性測定法として、原子レベル空間/電子構造解析、収束電子回折法によるナノメーター領域の格子歪みの精密測定、電子線トモグラフィーによる三次元構造解析、新たな検出器導入による4D-STEM技術を使った電磁場、局所歪などの可視化、ガス環境下の化学反応オペランド観察/分析、パルス電子による時間分解観察/分析などの技術を発展させます。

反応科学超高圧走査透過型電子顕微鏡 JEM1000K RS
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