電子顕微鏡を用いた精密構造解析法および物性測定法として、原子レベル空間／電子構造解析、収束電子回折法によるナノメーター領域の格子歪みの精密測定、電子線トモグラフィーによる三次元構造解析、新たな検出器導入による4D-STEM技術を使った電磁場、局所歪などの可視化、ガス環境下の化学反応オペランド観察／分析、パルス電子による時間分解観察／分析などの技術を発展させます。
ナノ顕微分光物質科学（武藤研究室）
電子線ナノ物理工学（齋藤研究室）
反応科学超高圧走査透過型電子顕微鏡 JEM1000K RS
電子顕微鏡計測部
