TEM（ティーイーエム）

透過電子顕微鏡（Transmission Electron Microscopy）の略称．試料に電子ビームを照射し、透過した電子を結像して拡大像を得る装置。細く絞った電子ビームを試料上で走査して、各点からの散乱電子によって結像するTEMを走査TEM（STEM）という。