機器やシステムが正常に稼働している時間の割合を示す指標。半導体製造における検査・計測プロセスでは、対義語であるダウンタイムと共に歩留まりに直接関わる重要な指標となっている。
《使用例》
名大発 “GaN系”技術で半導体製造の重要課題を打開! キオクシア岩手で検査・計測の基盤技術化プロジェクト始動
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用語解説
機器やシステムが正常に稼働している時間の割合を示す指標。半導体製造における検査・計測プロセスでは、対義語であるダウンタイムと共に歩留まりに直接関わる重要な指標となっている。
《使用例》
名大発 “GaN系”技術で半導体製造の重要課題を打開! キオクシア岩手で検査・計測の基盤技術化プロジェクト始動