受賞日 | 2025/06/10 |
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賞名 | 公益社団法人日本顕微鏡学会 論文賞 |
受賞者 | 玉置 央和さん('24 齋藤研卒・日立製作所)、齋藤 晃 教授 |
研究課題 | Measurement and correction of TEM image distortion using arbitrary samples |
関連HP |
日本顕微鏡学会 論文賞・和文誌賞 |
「公益社団法人日本顕微鏡学会 論文賞」は、Microscopy(旧誌名 Journal of Electron Microscopy)に掲載された論文の中より前2ヶ年の実績を審査し、学術上または技術上特に優秀な論文に対し贈られる賞です。(日本顕微鏡学会HPより)
https://microscopy.or.jp/award2/award/
ご受賞おめでとうございます!
