電子線パルスを用いた最新の構造測定装置

電子は、波としての性質を持つため、結晶にあたると、結晶中の原子による散乱波が干渉を起こし、回折像が観測される。この回折像を解析することで、結晶構造の情報を得ることが出来る。光励起による構造変化の様子を、試料を励起するパルス光と時間的同期のとれた電子線パルスを用いることで、ストロボ撮影のように時々刻々測定する装置。